TEM電鏡拆裝搬運(yùn)調(diào)試維修
2021-07-16 來自: 亞瑟半導(dǎo)體設(shè)備安裝(上海)有限公司 瀏覽次數(shù):209
TEM電鏡拆裝搬運(yùn)調(diào)試維修的亞瑟報道:在之前召開的IEDM年度會議上,總共進(jìn)行了六次小組討論式的演講。其中,由精密設(shè)備搬運(yùn)的高級副總裁Myung‐Hee Na先生做的一個題為《Innovative technology elements to enable CMOS scaling in 3nm and beyond - device architectures, parasitics and materials》的演講意思。本篇精密設(shè)備搬運(yùn)將逐個回顧演講內(nèi)容,由于演講內(nèi)容有不充分的地方,筆者為了讀者易于理解,適當(dāng)?shù)匮a(bǔ)充了演講內(nèi)容。需要說明的是,雖然這是一個說明未來CMOS邏輯技術(shù)的講座,但當(dāng)中卻省略了數(shù)個基本的前提:精密設(shè)備搬運(yùn)在28納米一一22納米的世代,芯片晶體管采用的是傳統(tǒng)的平面結(jié)構(gòu)MOS晶體管技術(shù),因此很難繼續(xù)微縮化。到了16/14納米及以后的技術(shù)節(jié)點(diǎn)時代,以FinFET為代表的立體結(jié)構(gòu)的MOS晶體管成為了基礎(chǔ)前提。精密設(shè)備搬運(yùn)之前,能否提升MOS晶體管性能(縮短延遲時間、增加ON電流)關(guān)系著CMOS邏輯的性能。但是,就大型、高速CMOS邏輯而言,無法忽視金屬排線引起的時間延誤(且越來越大)。對16/14納米世代以后的技術(shù)節(jié)點(diǎn)而言,縮短排線引起的時間延誤(或者不延長)對CMOS邏輯的性能提升極其重要。在演講之初,Myung‐Hee Na先生首先展示了CMOS邏輯生產(chǎn)技術(shù)的微縮化技術(shù)藍(lán)圖。時間軸(橫軸)范圍為2011年一一2025年??v軸為用對數(shù)表示的單位生產(chǎn)成本(美元單元)下晶體管數(shù)量,以2為底數(shù)。在2019年的7納米技術(shù)之前,幾乎都保持比率,從中也可以看出單位生產(chǎn)本下晶體管數(shù)量呈增長趨勢。精密設(shè)備搬運(yùn)以上技術(shù)藍(lán)圖詳細(xì)地說明了MOS晶體管技術(shù)的變遷。在28納米技術(shù)世代,平面型MOS晶體管導(dǎo)入了HKMG(High-K Metal Gate,高介電常數(shù)金屬閘極)技術(shù)。16/14納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)下,晶體管走向3D化,成為了FinFET。后來,F(xiàn)inFET持續(xù)了一段時間。
運(yùn)營項(xiàng)目
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