***聚焦離子束顯微鏡 (FIB-SEM)設(shè)備（搬運(yùn)搬遷裝卸）的亞瑟Arthur今天和大家聊聊聚焦離子束(FIB)與掃描電子顯微鏡(SEM)耦合成為FIB-SEM雙束系統(tǒng)后，??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?通過結(jié)合相應(yīng)的氣體沉積裝置，納米操縱儀，??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?各種探測器及可控的樣品臺等附件成為一個(gè)集微區(qū)成像、加工、分析、操縱于一體的分析儀器。其應(yīng)用范圍也已經(jīng)從半導(dǎo)體行業(yè)拓展至材料科學(xué)、生命科學(xué)和地質(zhì)學(xué)等眾多領(lǐng)域。??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?

如需要Dual Beam FIB-SEM在材料科學(xué)領(lǐng)域的一些典型應(yīng)用，??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?包括透射電鏡( TEM)樣品制備，材料微觀截面截取與觀察、樣品微觀刻蝕與沉積以及材料三維成像及分析搬遷搬運(yùn)裝卸等請聯(lián)系亞瑟4000810031??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?