電鏡搬運搬遷捆包移位I電鏡機殼安裝I學校實驗室搬運的亞瑟報道：透射電子顯微鏡是物質科‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍的微觀結構表征工具之一。球差校正技術的發(fā)展，結合新一代更高性能及功能更強大的電子顯微成像平臺, 為凝聚態(tài)物質的結構表征提供了‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍空間分辨率。高亮度的電子槍結合新一代電子能量單色器，為從物質內部聲子激發(fā)，到集體電子激發(fā)及單電子激發(fā)的研究提供了‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍的能量分辨率。而更強大更穩(wěn)定的新一代球差校正器，顯著的拓展了焦平面可調控的相位空間范圍，結合靈活的電鏡光路設計，為發(fā)展相干電子成像及衍射技術提供了更靈活的操控平臺‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍ 本次研討會，將介紹基于雙球差校正及超高能量分辨率透射電鏡平臺，結合多像素直接掃描電子探測器等手段，所發(fā)展的定量4D-STEM成分表征，共聚焦3D電子成像，TEM及STEM模式下多種新型的相干相位成像技術及相關應用，以及高分辨電子能量損失譜在凝聚態(tài)物質科學研究中的應用。 復旦大學物理學系及應用表面物理‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍驗室研究員。本科及碩士畢業(yè)于南京大學物理系，博士畢業(yè)于德國柏林洪堡大學物理系。2010-2017任澳大利亞莫納什大學電鏡中心(MCEM) Research Fellow (Tenured), 2017年底加入復旦大學物理學系。鄭長林研究員長期從事電子顯微學實驗及理論研究，在Phys. Rev. Lett., Ultramicroscopy, Microsc. Microanal.等期刊發(fā)表多篇電鏡方法學論文，并承擔‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍自然科學基金 “相干掃描共聚焦電子顯微鏡三維成像研究” 及 “透射電子顯微鏡的物質透鏡成像研究” 等項目。2010年其關于電子全息的學位論文獲德國博士論文‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍高榮譽等級Summa Cum Laude。2014年同FEI（現賽默飛科技）的研發(fā)人員共同開發(fā)出離軸共聚焦非彈電子成像技術，被選為PRL 編輯推薦論文并被Physics Today以“電子顯微鏡的新角度”專題報道。2017年開發(fā)出‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍生成貝塞爾電子束的電子錐透鏡技術，再次被選為PRL 編輯推薦論文。2018年，鄭長林研究員獲澳大利亞顯微學會頒發(fā)的John Sanders Medal，以表彰其在電鏡技術開發(fā)及物理學領域的應用所做出的‌‌半‍導‌體‍設‌備‍搬‌運‍貢獻。