300KV電鏡捆包搬運(yùn)-電鏡搬運(yùn)搬遷氣墊車運(yùn)輸?shù)膩喩獔?bào)道：半‍導(dǎo)‌體‍設(shè)‌備‍搬‌運(yùn)‍掃描電子顯微鏡SEM分析原理：用電子技術(shù)檢測(cè)高能電子束與樣品作用時(shí)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等并放大成象半‍導(dǎo)‌體‍設(shè)‌備‍搬‌運(yùn)‍譜圖的表示方法：背散射象、二次電子象、吸收電流象、元素的線分布和面分布等半‍導(dǎo)‌體‍設(shè)‌備‍搬‌運(yùn)‍提供的信息：斷口形貌、表面顯微結(jié)構(gòu)、薄膜內(nèi)部的顯微結(jié)構(gòu)、微區(qū)元素分析與定量元素分析等

掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用范圍：

      1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察

      2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析

      3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析

掃描半‍導(dǎo)‌體‍設(shè)‌備‍搬‌運(yùn)‍電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片。

樣品要求：

樣品半‍導(dǎo)‌體‍設(shè)‌備‍搬‌運(yùn)‍無磁，無水，成分穩(wěn)定要求。

制備原則：

表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行適當(dāng)清洗，然后烘干；

新斷開的斷口或斷面，一般不需要進(jìn)行處理，以免破壞斷口或表面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)；

要侵蝕的試樣表面或斷口應(yīng)清洗干凈并烘干；

磁性樣品預(yù)先去磁；試樣大小要適合儀器專用樣品座尺寸。半‍導(dǎo)‌體‍設(shè)‌備‍搬‌運(yùn)‍常用方法：

塊狀樣品塊狀導(dǎo)電材料：無需制樣，用導(dǎo)電膠把試樣粘結(jié)在樣品座上，直接觀察。

塊狀非導(dǎo)電（或?qū)щ娦阅懿睿┎牧希合仁褂缅兡しㄌ幚順悠?，以避免電荷累積，影響圖像質(zhì)量。