掃描電子顯微鏡 高性能電子顯微鏡<裝卸捆包搬運>的Arthur查詢到(SEM) 可通過使用聚焦的電子束對樣品進行掃描來生成圖像。樣品中原子與電子的相互作用會產(chǎn)生含有表面形貌特征和組成信息的信號。我們的 SEM 具有從幾納米到亞納米范圍的分辨力實?驗?室?搬?遷?能力。

掃描電子顯微鏡 (SEM) 的革命性復合透鏡設計將靜電與磁浸沒技術相結合，產(chǎn)生實?驗?室?搬?遷?的分辨率及信號選擇。這使得 Apreo SEM 成為納米顆粒、催化劑、粉末以及納米儀器研究的實?驗?室?搬?遷?，且不會影響磁性樣品性能。

將成像與分析的綜合性能與實?驗?室?搬?遷?的環(huán)境模式(ESEM)相結合，可在一般狀態(tài)下研究樣品。。它是各種學術，工業(yè)和政府實驗室的理想選擇，這些實驗室希望在支持獨T<194>原位 實驗的平臺上為不同經(jīng)驗水平和學科的多個用戶提供所需的多功能性和易用性。 實?驗?室?搬?遷?