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搬運透射電鏡（TEM）的基本原理是什么？

亞瑟告訴你如何***搬運TEM電鏡以及如何***上防震臺：

今天亞瑟搬運和你分享一下透射電鏡：

透射電子顯微鏡的分辨率遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡。

可以達(dá)到0.1——0.2nm，放大倍數(shù)為數(shù)萬到100萬倍。

透射電子顯微鏡用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，觀察一排原子的結(jié)構(gòu)，它比光學(xué)顯微鏡所能觀察到的小結(jié)構(gòu)小一萬倍。

TEM是一種重要的分析方法，廣泛應(yīng)用于腫瘤研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等物理和生物學(xué)領(lǐng)域，是研究材料的重要儀器之一。實?驗?室?搬?遷?

納米技術(shù)的基礎(chǔ)研究和發(fā)展也不例外。實?驗?室?搬?遷?

用TEM研究材料的微觀結(jié)構(gòu)時，樣品***是一層納米厚度的薄膜，并被TEM的電子束穿透。

單體納米纖維通常是通過透射電子顯微鏡的電子束直接穿透的。

將樣品直接放置在微網(wǎng)格上進(jìn)行透射電鏡觀察。納米顆粒和納米纖維容易團(tuán)聚，但這種方法不能得到理想的結(jié)果。實?驗?室?搬?遷?

例如，在納米粒子表面改性的研究中，納米纖維的橫界面很難研究，而界面問題的研究則更為困難。

透射電子顯微鏡（TEM）和納米材料樣品制備是值得討論的重要課題。

亞瑟搬運了解到方教授進(jìn)行了研究，并探索了一中和適的樣品制備方法。

該方法直接從納米顆粒和微米顆粒上切下薄膜進(jìn)行透射電鏡研究，對于觀察納米纖維的橫界面和納米界面，樣品制備效率很高。實?驗?室?搬?遷?

該技術(shù)的特點是直接從納米級和微米級的樣品上切下薄膜，可用于高分辨電子顯微鏡（HRTEM）。

樣品經(jīng)簡單粒子表面改性后為包覆粒子。實?驗?室?搬?遷?

對于纖維樣品，切割橫界面薄膜和切割縱向界面薄膜。對于有界面的樣品，利用該技術(shù)制備了TEM樣品。實?驗?室?搬?遷?

該技術(shù)的一個重要特點試樣品的原始結(jié)構(gòu)不受破壞。無高溫，無酸堿接觸，必要時不與水溶液接觸。實?驗?室?搬?遷?

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